Микроскоп металлографический LEVENHUK MM500LED 82232
Артикул: 82232
139 990 руб.
Нет в наличии
Доставка вМосква
Самовывоз из магазина0 руб.
по предварительному заказу
(г. Москва, м. Таганская,
ул. Большие Каменщики, д. 6, стр. 1)
(г. Москва, м. Таганская,
ул. Большие Каменщики, д. 6, стр. 1)
Курьером (1-2 рабочих дня)0 руб.
Самовывоз из ПВЗ (1-2 рабочих дня)0 руб.
ХАРАКТЕРИСТИКИ
Тип насадки
- тринокулярная
Увеличение, крат
- 50 — 500
Окуляры
- 10x/20 мм (2 шт.)
Объективы
- планахроматические, длиннофокусные, скорректированные на «бесконечность»: LMPlan 5х/0,15 WD 12 мм, LMPlan 10х/0,3 WD 16 мм, LMPlan 20х/0.4 WD 12 мм, LMPlan 50х/0.55 WD 9,15 мм; парфокальная высота 45 мм
Фокусировка
- коаксиальная, грубая (23 мм) и точная (2 мкм); механизм регулировки жесткости грубой фокусировки
Межзрачковое расстояние, мм
- 54 — 75
Подсветка
Источник питания
- сеть переменного тока
Назначение
Уровень пользователя
- для опытных, для профессионалов
Метод исследования
- светлое поле
Уровень сложности сборки и настройки
- сложно
Дополнительно
- съемный поляризатор
Чехол/сумка в комплекте
- чехол пылезащитный
Насадка
- Зидентопф, разделение светового потока 50/50, диоптрийная настройка на левом тубусе ±5 диоптрий
Угол наклона окулярной насадки
- 30°
Револьверное устройство
- на 4 объектива
Предметный столик, мм
- 210x140 мм, двухкоординатный механический, со стеклянной прямоугольной вставкой
Диапазон перемещения предметного столика, мм
- 75/50
Конденсор
- Аббе N.A. 1,25, с регулируемой апертурной диафрагмой; тип крепления «под винт»
Диафрагма
- встроенная полевая диафрагма, апертурная диафрагма
Регулировка яркости
- есть
Тип лампы подсветки
- 3 Вт (проходящий свет), 5 Вт (отраженный свет)
Исследование
- Для исследований методом светлого поля
Насадки
- Монокулярные
Модель
- 500
Особенности
- С антигрибковым покрытием
ОПИСАНИЕ
Металлографический микроскоп Levenhuk MM500LED предназначен для визуального наблюдения, контроля качества и исследования микроструктуры металлов, сплавов и других непрозрачных объектов в отраженном свете при прямом освещении в светлом поле и в поляризованном свете. Микроскоп предусматривает работу также в проходящем свете в светлом поле для исследования полупрозрачных объектов.
